著錄信息
- 專利名稱：采用雙錳銅設(shè)計抗外界磁場干擾的電路
- 專利類型：實用新型
- 申請?zhí)枺?/em>CN201220498266.X
- 公開(公告)號：CN202854203U
- 申請日：20120927
- 公開(公告)日：20130403
- 申請人：杭州炬華科技股份有限公司
- 發(fā)明人：姜干才,劉崢嶸,江少輝
- 申請人地址：310030 浙江省杭州市西湖科技經(jīng)濟園西園八路2號3幢
- 申請人區(qū)域代碼：CN330106
- 專利權(quán)人：杭州炬華科技股份有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：G01R15/00,G01R15/14
- 優(yōu)先權(quán)：無
- 專利代理機構(gòu)：杭州賽科專利代理事務(wù)所 33230
- 代理人：曹紹文
- 審查員：無
- 國際申請：無
- 國際公開(公告)：無
- 進入國家日期：無
- 分案申請：無
關(guān)鍵詞
錳銅片,采樣線,絕緣隔離,空間磁場,錳銅,抗干擾電路,磁場干擾,反向信號,干擾信號,外界磁場,形狀結(jié)構(gòu),連接,疊合,阻抗,電路,干擾
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