著錄信息
- 專利名稱：用于有價證券鑒偽的光學(xué)檢測裝置及其檢測方法
- 專利類型：發(fā)明
- 申請?zhí)枺?/em>CN201010284912.8
- 公開(公告)號：CN102610023B
- 申請日：20100917
- 公開(公告)日：20141105
- 申請人：中國印鈔造幣總公司,中鈔長城金融設(shè)備控股有限公司
- 發(fā)明人：王學(xué)文,廖俊寧,杜梁緣,李永翔,褚玉鳳,李雪嫚,王剛,孫志鋒,李毅,王爭兒,曹揚,郭建聰,柏年福,武再杰
- 申請人地址：100044 北京市西直門外大街甲143號
- 申請人區(qū)域代碼：CN110102
- 專利權(quán)人：中國印鈔造幣總公司,中鈔長城金融設(shè)備控股有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：G07D7/20
- 優(yōu)先權(quán)：無
- 專利代理機構(gòu)：北京汲智翼成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11381
- 代理人：陳曦
- 審查員：喬毅
- 國際申請：無
- 國際公開(公告)：無
- 進入國家日期：無
- 分案申請：無
關(guān)鍵詞
光學(xué)檢測裝置,接觸式圖像傳感器,有價證券,檢測,紅外光,吸收率,防偽檢測,紅外反射,紅外光源,紅外透射,特種印刷,紫外反射,紫外光源,紫外光,濾光片,傳感器,透射,防偽,兩側(cè)
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