著錄信息
- 專利名稱：接觸和非接觸式智能卡芯片通用檢測裝置
- 專利類型：實用新型
- 申請?zhí)枺?/em>CN201320412703.6
- 公開(公告)號：CN203350405U
- 申請日：20130711
- 公開(公告)日：20131218
- 申請人：武漢天喻信息產業(yè)股份有限公司
- 發(fā)明人：朱清泰
- 申請人地址：430223 湖北省武漢市東湖新技術開發(fā)區(qū)華工大學科技園
- 申請人區(qū)域代碼：CN420111
- 專利權人：武漢天喻信息產業(yè)股份有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：G01R31/28,G01R31/302
- 優(yōu)先權：無
- 專利代理機構：北京中北知識產權代理有限公司 11253
- 代理人：段秋玲
- 審查員：無
- 國際申請：無
- 國際公開(公告)：無
- 進入國家日期：無
- 分案申請：無
關鍵詞
檢測,頂針,芯片,非接觸式,接觸,非接觸式檢測,智能卡芯片,檢測裝置,非接觸,工作臺,接觸式,樞軸,相對工作臺,對接觸式,檢測設備,定位槽,轉動地,連接
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