著錄信息
- 專利名稱：晶體冶煉爐設(shè)備高精度位移檢測儀表
- 專利類型：實用新型
- 申請?zhí)枺?/em>CN201620792769.6
- 公開(公告)號：CN205808338U
- 申請日：20160726
- 公開(公告)日：20161214
- 申請人：黑龍江特通電氣股份有限公司
- 發(fā)明人：李國勇
- 申請人地址：150029 黑龍江省哈爾濱市開發(fā)區(qū)巨寶一路588號企業(yè)加速器7號樓
- 申請人區(qū)域代碼：CN230109
- 專利權(quán)人：黑龍江特通電氣股份有限公司
- 洛迦諾分類：無
- IPC：G01B7/02
- 優(yōu)先權(quán)：無
- 專利代理機構(gòu)：哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 23109
- 代理人：胡樹發(fā)
- 審查員：無
- 國際申請：無
- 國際公開(公告)：無
- 進入國家日期：無
- 分案申請：無
關(guān)鍵詞
微處理器,冶煉爐,高精度位移檢測,本實用新型,輸入端連接,鍵盤信號,報警信號輸出端,報警信號輸入端,模擬信號輸入端,上位機控制系統(tǒng),數(shù)字信號輸出端,提拉法生長晶體,位移數(shù)字信號,高精度檢測,位移傳感器,藍寶石,報警電路,晶體生長,數(shù)據(jù)交互,外設(shè)按鍵,位移信號,電子尺,電阻型,輸出端,提拉,儀表,檢測
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