一、掃描電子顯微鏡的原理是什么

掃描電子顯微鏡已成為現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)中不可缺少的重要工具,，在正式使用之前,，我們來(lái)看看掃描電子顯微鏡的原理是什么吧！

掃描電子顯微鏡（SEM）是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段,。其原理是利用材料表面微區(qū)的特征（如形貌,、原子序數(shù)、化學(xué)成分,、或晶體結(jié)構(gòu)等）的差異,，在電子束作用下通過(guò)試樣不同區(qū)域產(chǎn)生不同的亮度差異，從而獲得具有一定襯度的圖像,。

二,、 掃描電子顯微鏡有哪些用途

掃描電子顯微鏡可應(yīng)用于陶瓷材料分析、金屬材料失效分析,。在石油,、地質(zhì)、礦物領(lǐng)域,，電子,、半導(dǎo)體領(lǐng)域，醫(yī)學(xué),、生物學(xué)領(lǐng)域,，化工、高分子材料領(lǐng)域,，公安刑偵工作領(lǐng)域,，以及農(nóng),、林業(yè)等方面都有廣泛應(yīng)用。

掃描電子顯微鏡可進(jìn)行顯微形貌分析,，如果配備了其它分析儀器也可進(jìn)行成分的常規(guī)微區(qū)分析,，包括元素定量、定性成分分析,。進(jìn)行顯微形貌分析時(shí),，空間分辨率可達(dá)亞微米級(jí)；能夠進(jìn)行晶界的狀態(tài)測(cè)量,，或者晶體/晶粒的相鑒定,，以及晶體、晶粒取向測(cè)量等,；進(jìn)行微區(qū)成分分析時(shí),，能夠通過(guò)快速的多元素面掃描和線掃描進(jìn)行分布測(cè)量。

在現(xiàn)代產(chǎn)業(yè)化生產(chǎn)和科學(xué)研究中,，掃描電子顯微鏡發(fā)展成為材料分析,、監(jiān)控工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)、保證產(chǎn)品質(zhì)量,、保障大生產(chǎn)流程安全高效的必要手段,；同時(shí)在生物、環(huán)保,、醫(yī)學(xué)等有關(guān)人類(lèi)的生存,、發(fā)展領(lǐng)域的應(yīng)用也日新月異；在軍事現(xiàn)代高科技方面的發(fā)展（例如生物武器,、化學(xué)武器戰(zhàn)爭(zhēng)、現(xiàn)場(chǎng)毒物檢測(cè),、生命保障任務(wù)等）發(fā)揮了巨大的作用,。