x射線熒光光譜儀的原理 X熒光光譜儀的優(yōu)缺點(diǎn)
x射線熒光光譜儀是一種快速的,、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法,,可分析固體、粉末,、熔珠,、液體等樣品,分析范圍為Be到U,。近年來,,X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,廣泛應(yīng)用于冶金,、地質(zhì),、有色、建材,、商檢,、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域,,特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得最多也最廣泛,。下面來了解下x射線熒光光譜儀的原理以及X熒光光譜儀的優(yōu)缺點(diǎn),。