x射線熒光光譜儀的原理 X熒光光譜儀的優(yōu)缺點
x射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法,,可分析固體,、粉末,、熔珠、液體等樣品,,分析范圍為Be到U,。近年來,X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,,廣泛應(yīng)用于冶金,、地質(zhì)、有色,、建材,、商檢、環(huán)保,、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域,,特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得最多也最廣泛。下面來了解下x射線熒光光譜儀的原理以及X熒光光譜儀的優(yōu)缺點,。