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手動(dòng)探針臺(tái)和自動(dòng)的區(qū)別在哪里 手動(dòng)探針臺(tái)和自動(dòng)的哪個(gè)好

本文章由注冊(cè)用戶 時(shí)代工業(yè)園 上傳提供 2024-01-17 評(píng)論 發(fā)布 糾錯(cuò)/刪除 版權(quán)聲明 0
摘要:手動(dòng)探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu),主要用于半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試,。測(cè)試人員將需要量測(cè)的芯片放置在探針臺(tái)載物臺(tái)上,,通過X-Y移動(dòng),配合顯微鏡,,找到需要探測(cè)的位置,。然后,通過旋轉(zhuǎn)探針座上的X-Y-Z三向旋鈕,,控制前部探針扎到被測(cè)點(diǎn),,使信號(hào)線與外部測(cè)試機(jī)導(dǎo)通,通過測(cè)試機(jī)測(cè)試人員可以得到所需要的電性能參數(shù),。那么手動(dòng)探針臺(tái)和自動(dòng)的區(qū)別在哪里以及手動(dòng)探針臺(tái)和自動(dòng)的哪個(gè)好呢,?一起來看看吧!

一,、手動(dòng)探針臺(tái)和自動(dòng)的區(qū)別在哪里 ?

自動(dòng)探針臺(tái)可分為半自動(dòng)探針臺(tái)和全自動(dòng)探針,,它們和手動(dòng)探針臺(tái)在使用類型、功能,、操作方式和價(jià)格等方面都有所不同,。

1、手動(dòng)探針臺(tái)是一種手動(dòng)控制的探針臺(tái),,通常用于沒有很多待測(cè)器件需要測(cè)量或數(shù)據(jù)需要收集的情況下,。該類探針臺(tái)的優(yōu)點(diǎn)是靈活、可變性高,,易于配置環(huán)境和轉(zhuǎn)換測(cè)試環(huán)境,,并且不需要涉及額外培訓(xùn)和設(shè)置時(shí)間的電子設(shè)備、PC或軟件,。手動(dòng)探針臺(tái)系統(tǒng)只需要少量的培訓(xùn),,因此非常適合研發(fā)人員使用。

2,、半自動(dòng)探針臺(tái)是一種半自動(dòng)控制的探針臺(tái),,可以在沒有很多待測(cè)器件需要測(cè)量或數(shù)據(jù)需要收集的情況下使用,。與手動(dòng)探針臺(tái)相比,半自動(dòng)探針臺(tái)的操作相對(duì)簡(jiǎn)單,,但需要使用者進(jìn)行一些簡(jiǎn)單的操作,,如移動(dòng)晶圓載物臺(tái)、調(diào)整顯微鏡焦距等,。半自動(dòng)探針臺(tái)通常需要進(jìn)行一些預(yù)設(shè)置,,以便能夠適應(yīng)不同的測(cè)試環(huán)境。

3,、全自動(dòng)探針臺(tái)是一種全自動(dòng)控制的探針臺(tái),,可以在沒有很多待測(cè)器件需要測(cè)量或數(shù)據(jù)需要收集的情況下使用。相比于半自動(dòng)探針臺(tái),,全自動(dòng)探針臺(tái)具有更高的精度和效率,,可以在短時(shí)間內(nèi)完成大量的測(cè)試操作。全自動(dòng)探針臺(tái)通常還配備有晶圓材料處理搬運(yùn)單元(MHU),、模式識(shí)別(自動(dòng)對(duì)準(zhǔn))等功能,,以確保晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個(gè)測(cè)試。全自動(dòng)探針臺(tái)通常用于芯片量產(chǎn)或有一些特殊要求如處理薄晶圓,、封裝基板等,。

二、手動(dòng)探針臺(tái)和自動(dòng)的哪個(gè)好

半自動(dòng)和全自動(dòng)探針平臺(tái)提供了更高程度的自動(dòng)化,。它們可以根據(jù)預(yù)設(shè)程序自動(dòng)操作探針臂和探針,,將其定位在待測(cè)物體上。用戶只需輸入指令來控制整個(gè)測(cè)試過程,。這些平臺(tái)還配備了圖像識(shí)別技術(shù),,能夠自動(dòng)識(shí)別待測(cè)物體的位置,提高測(cè)試的準(zhǔn)確性和效率,。與手動(dòng)探針平臺(tái)相比,,半自動(dòng)和全自動(dòng)探針平臺(tái)系統(tǒng)更加高效、便捷,,能夠節(jié)省大量的人力和時(shí)間成本,,并提供更可靠的測(cè)試結(jié)果。

但實(shí)際選擇時(shí),,手動(dòng)探針臺(tái)適合研發(fā)人員使用,,半自動(dòng)探針臺(tái)適合初學(xué)者使用,而全自動(dòng)探針臺(tái)適合具有一定經(jīng)驗(yàn)的測(cè)試人員使用,。不同類型的探針臺(tái)各有優(yōu)缺點(diǎn),,選擇何種探針臺(tái)主要取決于測(cè)試的需求和個(gè)人的技能水平。

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